計量誤差と今後の開発動向

測定誤差抑制対策

実際には、スケールの測定誤差の理由は、スケール自体の品質の影響に加えて、人員の操作、技術レベルなどと直接の相関関係があります。まず第一に、検査員の総合的な資質が秤検査の精度に影響を及ぼします。検査作業において、検査員が計量検査の標準手順に従って作業していない場合、秤の測定につながりやすくなります。チェックミス。たとえば、秤の押し込み性能とバランス性能をチェックする場合、チェッカーは空の秤のばらつきチェックを無視しがちです。第二に、はかりは主に物体の重量を測定するために使用され、機能レベルに基づいて、電気制御、ロードセル、計量表示コントローラーなどに分類できます。社会科学技術の発展に伴い、はかりは主に使用されます。物の重さを測るのに。社会科学技術の発展に伴い、スケール機能システムは大きな変化を遂げ、従来の計測からモジュール化、知能化へと発展してきましたが、制御技術の向上が必要なため、依然として計測率には大きなばらつきがあります。 、標準範囲など。

通常、貿易市場やその他の分野で使用される電子秤の測定には、5g、10g、20gなどの6つの計量点があり、許容誤差は±0.1g、±0.5gなどに相当します。電子秤の測定と校正を実行するとき、校正担当者は、測定点と許容誤差値、および計量期間中の標準重量データの詳細な記録を非常に重視する必要があります。これらのデータは、測定誤差によって測定されます。電子秤は妥当な範囲内で制御できます。これにより電子天秤の測定誤差を適正範囲内に抑えることができます。同時に、認証担当者は、電子秤の状況を合理的に「認証証明書」に記入し、審査のために所管部門に提出する必要があります。これによっても、電子秤の測定効果を向上させることができます。一方、繰り返しの校正の過程で、校正結果の精度を向上させるために、校正担当者は電子スケール測定ツールをさまざまな条件に置いて校正し、校正データを適切に記録する必要があります。キャリブレーション結果の精度も向上します。

計量業界の今後の発展動向の計測

マイクロエレクトロニクス技術の発展に伴い、測定秤はアナログ電子秤からデジタル電子秤に変わり、デジタルセンサーの製造プロセスはますます完璧になり、アナログ電子秤は事実上デジタル電子秤に置き換わります。強力で良好な測定結果の信頼性が高く、市場で認められることになります。非自動秤も自動秤に向けて発展し続け、従来の単一秤は自動機器、計量システムに置き換えられるでしょう。計量秤産業の発展に伴い、中国の計量秤の使用はもはや単一機能ではなく、管理、制御、監視などに統合され、製造企業は伝送装置や記憶装置の製造も請け負うようになる。計量技術も従来の静的計量から動的計量に変わります。アナログ測定スパンからデジタル測定へ、単一パラメータ測定がマルチパラメータ測定になり、スケールの技術的性能も強力な安定性、高精度、良好な開発率の方向に向かうでしょう。さらに、計測スケールは小型化、モジュール化、統合化、インテリジェント化の傾向にあります。計量スケールの適用、アップグレードにより、計量機器のサイズは引き続き縮小され、高さは低くなりますが、モジュールの分割組み合わせの傾向も見られます。この傾向の下で、製品の信頼性と汎用性は大幅に向上し、スケール製品の生産品質と効果は強化されます。